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本发明提供了一种二极管测试工艺，涉及半导体生产加工以及测试技术领域，主要包括以下几个步骤：S5、压紧引脚：对步骤S4中将发光二极管底部的引脚粘贴住的两层编织带通过两侧压紧板向中间快速夹持并快速松开；通过测试台表面的两个编带压板往复交替按压，利用编带压板表面的弧形弯曲进行折叠导向使编织带按照S形层叠进行收纳，减少编织带点用面积的同时增加编织带收纳性能，同时通过将编织带按照S形层叠进行收纳减小编织带点用面积的同时，配合涂抹在发光二极管表面的红油墨水通过折弯后的发光二极管向上展示，可以便于后期人员采用
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117352414A
(43)申请公布日2024.01.05
(21)申请号202311573378.6
(22)申请日2023.11.23
(71)申请人深圳市丰颜光电有限公司
地址5
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