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本发明公开了一种分形结构二维固体表面的特征提取方法、装置及设备，方法包括：获取目标二维固体表面的高度分布，从高度分布选取预设数量的高度数据；对高度数据进行离散傅里叶变换，获得空间频率域幅值；对空间频率域幅值进而二维变换，获得二维功率谱密度；对二维功率谱密度进行环向信息等效压缩，获得一维功率谱密度；基于一维功率谱密度的斜率和系数，提取目标二维固体表面的特征参数。本发明基于目标二维固体表面的高度分布确定的高度数据，进而结合离散傅里叶变换、二维变换以及环向信息等效压缩，充分挖掘目标二维固体表面的特征相
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117372707A
(43)申请公布日2024.01.09
(21)申请号202311216571.4
(22)申请日2023.09.19
(71)申请人广州机械科学研究
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