XBAR-R SPC教材(最新整理版).pptxVIP

spc;控制图;管制图类型;均值和极差图（X-R）;接上页;、计算每个子组的均值（X）和极差R对每个子组计算：X=（X1+X2+…+Xn）/n

R=Xmax-Xmin

式中：X1，X?为2??子组内的每个测量值。n表示子组的样本容量

、选择控制图的刻度

两个控制图的纵坐标分别用于X和R的测量值。

刻度选择：;接上页

对于X图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。

注：一个有用的建议是将R图的刻度值设置为X图刻度值的2倍。

（例如：平均值图上1个刻度代表0.01英寸，则在极差图上

1个刻度代表0.02英寸）

1-5、将均值和极差画到控制图上

5-1X图和R图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。5-2确保所画的X和R点在纵向是对应的。

注：对于还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明“初始研究”

字样。;2 计算控制限;接上页注：式中A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系

数值见下表：;2-3在控制图上作出均值和极差控制限的控制线;分析极差图上的数据点

超出控制限的点

a出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据，应分析。

b超出极差上控制限的点