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JJG812—1993

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干涉滤光片检定规程

本规程适用于新制造和使用中的、波长范围在330~750nm的干涉滤光片的检定。

一概述

干涉滤光片是利用多光束干涉原理,在光学基底上镀制多层金属和(或)介质膜层而制得的。当白光通过干涉滤光片后,即变成具有一定带宽的单色光,可用它来检定波长和获得近似单色光。

二技术要求

1外观要求

1.1干涉滤光片表面没有明显的麻点、擦痕、斑点、裂纹等。

1.2胶合面没有明显的气泡、灰尘、霉斑、脱胶、龟裂等。

1.3干涉滤光片应有相应的编号。

2最大透射比不小于表1允差。

3中心波长(或峰值波长)偏差不超过表1允差。

4半宽度不大于表1允差。

5截止区域背景光透射比不大于表1允差。

中心波长≥400nm时,短波限:350nm;长波限:800nm。

中心波长400nm时,短波限:280nm;长波限:800nm。

6波形系数不大于表1允差。

表1

允

级

别

项

目

差

最大透射比τmax/%

中心波长

(或峰值波

长)偏差

Δλ/nm

半宽度Δλ0.5/nm

截止区域背景光透射比τc/%

波形系数η

波长均匀性Δj/nm

直径或宽度30mm

直径或宽度≥30mm

1

30

±1

12

0.1

3

1.0

1.5

45

±1

8

0.1

2

1.0

1.5

2

30

±2

15

0.5

3

1.0

1.5

45

±2

10

0.5

2

1.0

1.5

3

30

±5

15

0.5

3.3

1.5

2.0

45

±5

10

0.5

3

1.5

2.0

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7波长均匀性不超过表1允差。

三检定条件

(一)检定环境

8周围没有会引起干涉滤光片膜层腐蚀的气体。

9室温15~25℃;相对湿度不超过70%。

(二)检定设备

10紫外可见分光光度计(其波长范围不小于280~800nm)。

分光光度计的光谱带宽在全波段范围内不大于2nm。用来检定1、2级干涉滤光片的紫外可见分光光度计的技术指标应符合JJG682—1990“双光束紫外可见分光光度计”A级仪器的要求。用来检定3级干涉滤光片的紫外可见分光光度计的技术指标应符合JJG682—1990“双光束紫外可见分光光度计”B级仪器的要求。

1160~100W的白炽灯和黑色屏幕。

四检定项目和检定方法

12检定项目

干涉滤光片的检定项目按表2要求进行。

表2

检定项目

新制造

使用中

外观要求

+

+

最大透射比

+

+

中心波长偏差

(或峰值波长偏差)

+

+

半宽度

+

+

背景光透射比

+

-

波形系数

+

-

波长均匀性

检验波长用

+

+

获得单色光用

+

-

注:“+”表示该项目要做,“-”表示该项目不做。

13外观要求检查

用无水乙醇和无水乙醚的混合液清洁滤光片表面,以黑色屏幕为背景,在白炽灯下

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目测，按第1条要求进行检验。

14作干涉滤光片的透射特性曲线

14.1把清洁后的干涉滤光片装入滤光片架或紧贴在吸收池架子上，使干涉滤光片的中心与测试孔的中心对齐(用手拿干涉滤光片的两侧，不可触摸透光表面)。再将装有滤光片的架子放入分光光度计的样品室内，先让分光光度计的测试光束，全部通过滤光片架或吸收池架的参比孔内的空气层，调节分光光度计的透射比示值为100%,再将装有滤光片的测试孔推入光路中，使测试光束的中心与干涉滤光片的中心重合，测试光束全部垂直地通过干涉滤光片(见图1),并将分光光度计的带宽置于2nm。

图1

14.2用自动记录式和带微机的分光光度计测试时，可按说明书操作，选择合适的扫描速度，让波长从350nm到800nm(或280nm到800nm)进行扫描。仪器自动作出z—λ曲线。

14.3用非记录式分光光度计测试时，可按说明书用手调节波长。每隔5nm测一点，

在中心波长λ±8nm范围内每隔1nm测一点，从350nm到800nm(或280nm到

800nm)每改变一个波长，测一次透射比，每次测试都要用参比孔作空白来调节分光光度计的透射比到100%,记下每次波长λ、透射比z的数