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一种基于紫外图像的GIS缺陷分类及评估方法及系统.pdfVIP

一种基于紫外图像的GIS缺陷分类及评估方法及系统.pdf

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    本发明公开了一种基于紫外图像的GIS缺陷分类及评估方法及系统，该方法包括：利用紫外成像设备检测GIS设备，获取GIS设备的紫外图像，获取紫外图像中的光子数量；通过基于光子密度改进的FCM算法，提取紫外图像中的缺陷区域，获取缺陷区域图像；利用基于CNN的GIS缺陷分类模型，对提取的缺陷区域图像进行识别，确定缺陷类型；根据紫外图像中的光子数量、缺陷区域面积和缺陷类型，计算GIS设备的缺陷严重系数，根据缺陷严重系数和预划分等级，评估GIS设备的缺陷严重程度。本发明能够有效提高GIS缺陷检测的准确率，同

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117455893A

    (43)申请公布日2024.01.26

    (21)申请号202311587331.5G06T7/11(2017.01)

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