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2024-01-27 发布于四川
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一种基于YOLOv5的PCB表面缺陷改进检测方法.pdf

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一种基于YOLOv5的PCB表面缺陷改进检测方法，涉及一种计算机图像处理和工业控制检测方法，该方法首先利用Mini‑BatchK‑means方法进行重新聚类，选择更适合该数据集的锚框，另外在主干网络CBS模块后添加SE注意力机制，从而突出了有用的空间通道，改进了对小目标特征的提取能力减少图像中背景与缺陷之间的干扰，最后采用EIOU损失函数提高预测框检测精度。该模型在PCB_DATASET数据集上进行实验，将实验结果与YOLOv5的不同尺度模型进行对比，结果表明，在实时、高精度检测产品表面缺陷方

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117455835A

(43)申请公布日2024.01.26

(21)申请号202311212657.XG06V10/77(2022.01)

(22)申请日2023.09.

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