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2024-01-31 发布于四川
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本申请公开了一种老化测试系统及老化测试方法，该老化测试系统包括上位机、控制单元、老化测试载板及电子负载板。多套老化测试载板与控制单元耦接，用于插置若干待测器件，待测器件根据指令执行对应操作得到测试数据，每套老化测试载板选通连接至少两套电子负载板，老化测试载板还连接控制单元。上述，老化测试载板选通连接至少两套电子负载板，使得老化测试载板可以与其中一套电子负载板连接，与其他电子负载板断开，或与其中两套电子负载板连接，或与其他数目电子负载板连接，使得管理员可以灵活根据测试需求选择任意数量的电子负载板与

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117471353A

(43)申请公布日2024.01.30

(21)申请号202311554451.5

(22)申请日2023.11.17

(71)申请人天芯互联科技有限公司

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