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基于多扫描电路的内建自测试方法研究的综述报告

多扫描技术是一种非常重要的测试方法，广泛应用于数字电路芯片和系统的设计和测试中。其基本原理是通过在芯片或系统中加入一些特殊的控制电路，使得能够将所有的寄存器或逻辑门全部扫描出来，进而实现内部自测试。相比于传统的测试方法，多扫描技术具有测试效率高、复杂度低、测试覆盖率高、可靠性高等优点，被广泛应用于芯片和系统的设计中。

本文主要对基于多扫描技术的内建自测试方法进行综述，包括其原理、实现方式、优点和应用等方面，从而更好地了解该方法。

一、多扫描技术的原理

多扫描技术的核心是扫描链，其由与逻辑、或逻辑、存储器单元、并行和串行寄存器等元件内部互连而成。通过对扫描链进行读取和写入，可以对芯片或系统中的每个寄存器、逻辑门、存储器单元的状态进行控制。在内部自测试过程中，可以将一个已知的测试向量循环送入芯片或系统内的多个寄存器，然后进行输出比较，从而检测测试目标是否正确。

二、多扫描技术的实现方式

多扫描技术的实现方式多种多样，包括全扫描、边界扫描、基于序列的扫描等。

1.全扫描

全扫描是最常用的一种实现方式，其基本原理是将所有的可扫描元件串联构成一条扫描链。由于全扫描能够确保测试覆盖率达到100%，因此在实际应用中得到广泛使用。

2.边界扫描

边界扫描是一种基于标准扫描接口（JTAG）的实现方式，它通过在芯片或系统的输入输出端口加入特殊的扫描器件，实现对系统边界的测试。边界扫描与全扫描相比，测试长度短，测试速度快，但测试覆盖率稍低。

3.基于序列的扫描

基于序列的扫描是一种基于状态机的实现方式，它能够检测芯片或系统内部状态机的性能和功能。这种实现方式与全扫描和边界扫描不同，因为它的测试目标不是片内所有可扫描元件，而是芯片或系统内嵌的状态机，因此测试针对性很强。

三、多扫描技术的优点

多扫描技术优点很多，主要包括以下几点：

1.高测试效率

多扫描技术能够同时测试多个元件，测试效率明显高于传统的测试方法，节约了测试时间和测试成本。

2.高测试覆盖率

多扫描技术能够测试所有可扫描元件，测试覆盖率达到100%，能够有效地检测设计中的缺陷。

3.测试复杂度低

多扫描技术通过少量简单的控制电路实现测试，测试系统的设计复杂度低，易于实现。

4.可靠性高

多扫描技术能够通过在内部进行测试，有效地排除了芯片或系统分析、测试、封装、可靠性等不确定性因素。

四、多扫描技术的应用

多扫描技术广泛应用于数字电路芯片和系统的设计和测试中。除此之外，还有以下应用：

1.逻辑测试

多扫描技术适用于任何逻辑电路的测试，能够在设计完成后进行集成测试。

2.功耗测试

多扫描技术能够检测芯片或系统在不同工作状态下的功耗情况，帮助设计人员优化功耗。

3.器件卡出和Debug

多扫描技术能够帮助卡出器件的缺陷，找出芯片或系统中出现的错误，便于Debug和修复。

五、结论

本文对基于多扫描电路的内建自测试方法作了综述，全面介绍了多扫描技术的原理、实现方式、优点和应用。多扫描技术能够有效地提高测试效率和测试覆盖率，降低设计复杂度，提高测试可靠性。在数字电路芯片和系统的设计和测试中，多扫描技术有广泛的应用前景。