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本发明公开了一种基于泛化模型的电路优化方法、装置及存储介质，所述方法包括获取影响电路性能的设计参数集；针对设计参数集中的每一组设计参数进行N次拉丁超立方LHS仿真，获得该设计参数下N个样本，并添加到数据集T中，从数据集T中随机采样W个任务，以任务为训练集，不断训练更新每个任务的模型系数；计算每个任务的损失函数，利用所有任务的损失函数，统计全局损失函数，从而获得泛化模型；通过泛化模型进行仿真，评估各设计参数的良率，从而确定最优设计参数，通过最优设计参数对电路进行设计，实现电路优化，本发明通过泛化模
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117521580A
(43)申请公布日2024.02.06
(21)申请号202311579518.0
(22)申请日2023.11.24
(71)申请人中科南京智能技术研究院
地址2
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