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嵌入式SRAM内建自测试设计的任务书
任务名称：嵌入式SRAM内建自测试设计
任务背景：
现代电子产品的性能和质量要求愈来愈高，因此在电路设计过程中需要考虑电路的可测试性。SRAM是大多数数字集成电路的重要组成部分，因此其可测试性也是至关重要的。本任务的目标是通过设计嵌入式SRAM内建自测试电路，提高SRAM的可测试性。
任务要求：
1.熟悉SRAM的原理和内部结构，并了解其测试方法。
2.了解自测试技术，理解其原理，掌握其实现方法。
3.设计SRAM内建自测试电路，可实现以下功能：
-自动完成SRAM的写入和读出操作；
-自动检测SRAM中的故障，并将结果输出到外部接口。
4.实现SRAM内建自测试电路的仿真和验证。
任务步骤：
1.研究SRAM原理和测试方法，分析当前SRAM可测试性存在的问题。
2.研究自测试技术，包括PCT、BIST和FIST等方法，选择合适的方法。
3.设计SRAM内部自测试电路，并进行仿真验证。
4.集成SRAM内部自测试电路到整个系统中，并进行系统级仿真和验证。
5.编写测试代码，对设计的SRAM内建自测试电路进行测试。
6.总结设计经验，提出改进方案。
7.撰写设计报告。
任务成果：
1.SRAM内建自测试电路设计报告，包括设计原理、仿真结果和测试结果。
2.SRAM内建自测试电路的测试代码。
3.SRAM内建自测试电路的实际实现和测试情况报告。
4.设计经验总结和改进方案。
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