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本发明提供了一种实现NANDFLASH电流测试的系统及方法，所述系统包括上位机和测试板卡，测试板卡包括主控制器、从控制器和电流采集电路，主控制器负责与上位机交互，接收上位机下发的测试命令到，测试命令包括电流测量指令和/或闪存操作指令，主控制器负责根据闪存操作指令对NANDFLASH进行常规操作测试，使其进入待模拟闪存工况状态，从控制器接收主控制器转发或上位机直接下发的电流测量指令，负责控制电流采集电路对进入待模拟闪存工况状态下NANDFLASH进行高速、高精度的电流测量，解决了现有NAND
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117558333A
(43)申请公布日2024.02.13
(21)申请号202311584862.9
(22)申请日2023.11.24
(71)申请人北京得瑞领新科技有限公司
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