原创力文档- 1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明公开了一种测量光学元件或成像系统像差的方法及装置，包括：步骤1，利用像差传感器测量光学元件或成像系统的实际微透镜子图像；步骤2，获取实际微透镜子图像相对于理想无像差情况下微透镜子图像在微透镜阵列的归一化坐标系uv的水平方向u、和竖直方向v上的偏移量的离散分布步骤3，采用多项式拟合方法，计算的多项式系数组am,n和的多项式系数组bm,n；步骤4，将所有的微透镜对应的多项式系数组am,n和bm,n排列为系数矩阵c，先获得双降维像差系数矩阵D，再获得赛德尔像差S。本发明能够直接测量当前尚无法测量
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117554040A
(43)申请公布日2024.02.13
(21)申请号202311517845.3
(22)申请日2023.11.15
(66)本国优先权数据
202311268604.X
文档评论（0）