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本发明涉及模式识别技术领域，具体为基于人工智能的计量芯片异常检测方法及系统，包括以下步骤：基于计量芯片数据，采用图卷积网络算法，对芯片中的节点进行特征提取和表示学习，通过图结构捕捉节点间的依赖性和相互作用，生成节点表示数据集。本发明中，通过图卷积网络深入分析节点依赖性和相互作用，提高系统对电路结构的理解能力，图注意力网络通过动态边缘权重调整，集中处理关键节点问题，增强识别效率，异构图神经网络使得方法能综合处理复杂数据类型，全面识别异常模式，深度强化学习提高模型适应性，响应环境变化，而变分自编码器
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117574308A
(43)申请公布日2024.02.20
(21)申请号202410068969.6G06N3/0455(2023.01)
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