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一种车规芯片的功能安全测试方法及系统.pdfVIP

一种车规芯片的功能安全测试方法及系统.pdf

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    本发明涉及芯片测试领域，具体公开了一种车规芯片的功能安全测试方法及系统，该测试方法在包含供电电源、功能安全测试平台、被测芯片和高温环境应力的测试系统中按照以下步骤进行：启动测试系统，根据被测芯片类型选择故障注入类型；执行故障注入；收集被测芯片进行故障注入的测试结果；重复S2直至完成所有类型的故障注入，将所有测试结果收集形成数据库；还可将整个测试系统置于高温恶劣环境中进行功能安全测试。通过该测试方法可以对车规芯片的功能安全进行全方面、完整且定量准确的测试分析，能够覆盖所有可能影响车规芯片的功能安全

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117572200A

    (43)申请公布日2024.02.20

    (21)申请号202311322924.9

    (22)申请日2023.10.12

    (71)申请人北京国家新能源汽车技术创新中心

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