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本申请涉及一种基于散射法检测光学元件缺陷的装置，属于光学元件检测技术领域，包括底座、侧板、夹持组件、检测组件、吹气组件以及上下料组件，上下料组件、侧板以及检测组件在底座上依次分布，侧板设置有两块，两块侧板之间形成有检测工位，上下料组件包括光学元件夹具，上下料组件通过光学元件夹具将待检测的光学元件移动至检测工位进行检测，光学元件夹具与夹持组件对待检测光学元件交替进行夹持，检测组件滑动设置在底座上，检测组件能在底座上朝夹持驱动件靠近，检测组件用于对被夹持的待检测光学元件进行检测，吹气组件设置在底座上
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117589720A
(43)申请公布日2024.02.23
(21)申请号202311376339.7
(22)申请日2023.10.23
(71)申请人湖南戴斯光电有限公司
地址41
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