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- 2024-02-24 发布于四川
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本发明公开了一种芯片射频测试平台，包括：底座；所述底座内侧嵌入设计活动板，在所述活动板上设置有定位基座和限位框架，所述限位框架设置在所述定位基座的一侧，所述定位基座上安装有测试组件，通过调节所述测试组件在所述定位基座上的位置，检测所述限位框架内侧待测芯片的不同区域；该测试平台通过调节活动板和定位基座上方夹紧旋钮的设置位置，调节测试组件与待测芯片之间的相对位置，使测试组件可以位于待测芯片的正上方，并通过可视组件观察待测芯片的检测区域和射频测试端口是否处于同心，可以直接观察待测芯片的定位位置。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117590203A
(43)申请公布日2024.02.23
(21)申请号202410072241.0
(22)申请日2024.01.18
(71)申请人宁波吉品科技有限公司
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