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一种芯片测试分选机及芯片测试分选工艺.pdfVIP

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  • 2024-02-28 发布于四川
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一种芯片测试分选机及芯片测试分选工艺.pdf

    本发明属于芯片测试分析技术领域，本发明所提出的芯片测试分选机及芯片测试分选工艺，该芯片测试分选机包括上料仓、多个下料仓、多个检测机构、输送机构及打标机构，上料仓用于盛放待检测的芯片；多个下料仓用于盛放检测后呈不同结果的芯片；检测机构被配置为对芯片进行检测；输送机构能够将上料仓中的芯片输送至检测机构，并能够将检测之后的芯片输送至对应的下料仓；打标机构设置于输送机构的上方，并能够对检测后的芯片进行打标，以区分芯片。检测完成后，在由检测机构移动至下料仓的过程中，打标机构根据检测机构所反馈的结果在芯片的

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117600095A

    (43)申请公布日2024.02.27

    (21)申请号202311454052.1

    (22)申请日2023.11.03

    (71)申请人盛吉盛智能装备（江苏）有限公司

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