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芯片检测方法、芯片检测装置.pdfVIP

芯片检测方法、芯片检测装置.pdf

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    本发明涉及芯片检测技术领域，公开了芯片检测方法、芯片检测装置，芯片检测方法是基于刷写至待检测芯片的故障检测程序实现的；芯片检测方法：对待检测芯片的通信串口进行故障检测；在通信串口不存在故障时，对待检测芯片的GPIO引脚进行故障检测；对待检测芯片的ADC引脚进行故障检测；对待检测芯片的其他串口进行故障检测。本发明对待检测芯片上各个硬件功能和各个外设功能进行点检测试，达到快速定位芯片故障位置的目的。

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117632606A

    (43)申请公布日2024.03.01

    (21)申请号202311590768.4

    (22)申请日2023.11.24

    (71)申请人浙江正泰仪器仪表有限责任公司

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