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本申请涉及一种杂质检测设备。杂质检测设备包括制样装置及光学检测装置。制样装置包括压制下模、模具及压制上模，模具设于压制下模之上，用于容纳用于制备检测样品的原材料；压制上模与压制下模相对；压制下模和压制上模中至少一个被配置为可以朝向另一个运动，将原材料压薄至预设厚度，形成检测样品；光学检测装置包括光源器件、夹具及成像结构，夹具用于夹设检测样品；成像结构设于夹具背离光源器件的一侧；在对检测样品检测时，光源器件向检测样品提供光源，成像结构上能够呈现检测样品的图像，根据所述图像能够确定杂质检测结果。
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220584071U
(45)授权公告日2024.03.12
(21)申请号202321738058.7
(22)申请日2023.07.04
(73)专利权人北京小米移动软件有限公司
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