LTCC元器件开路测试夹具、测试系统及测试方法.pdfVIP

LTCC元器件开路测试夹具、测试系统及测试方法.pdf

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本申请适用于元器件测量技术领域,具体涉及一种LTCC元器件开路测试夹具、测试系统及测试方法,测试夹具包括第一座体、第二座体;第一座体包括凸设的承载台,承载台上设有安装槽,安装槽用于设置元器件;第二座体设有用于承载台插入的安装孔,在安装孔的内壁上设有导电弹片,第二座体用于靠近或者远离第一座体以使承载台插入或拔出安装孔,且插入时导电弹片与元器件的输入电极和输出电极分别接触导通。旨在增加元器件夹持时的牢固程度,并且尽量使更换元器件的过程不过于繁琐且降低对元器件电极的损伤。

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117741196A

(43)申请公布日2024.03.22

(21)申请号202311763134.4

(22)申请日2023.12.19

(71)申请人深圳振华富电子有限公司

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