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- 2024-03-23 发布于四川
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本发明公开了多路交织的ATE支持高频率单路模式的系统及测试方法，属于芯片自动化测试设备领域。包括全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块、ALPGMUX多路选择器和信号调制模块；所述全功能ALPG模块、高频单路模式专用ALPG模块均与ATE的测试平台系统的交互接口通信连接，全功能ALPG模块的输出端、高频单路模式专用ALPG模块的输出端和ALPGMUX多路选择器通信连接。ALPGMUX多路选择器和信号调制模块通信连接，信号调制模块输出端和被测器件DUT连接。本发明通过增加新增高频单
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117743046A
(43)申请公布日2024.03.22
(21)申请号202311636988.6
(22)申请日2023.12.01
(71)申请人合肥精智达集成电路技术有限公司
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