AEC Q100 项目 简表分析和总结.docx

AECQ100項目簡表

绑线切应力

WBS

Cl

杲少5个器件中的30个绑线

Cpk} L3,3

Ppk)l.67

AEC-1QIOO 001

绑线拉力

翱P

C2

Cpk)

1..33

Ppk)L67

或温度循环

(#A4)

后0Fails

MIL-STD883

method 2011

可焊性

SD

C3

15

1

)95％引脚

设盖

JEDEC JESD22-

B102

物理尺寸PDC41

物理尺寸

PD

C4

10

3, Cpk)L33

几DECJESD22-

B100 andB108

锡球切应力

SBS

C5

最少10

个器件中的5个锡球

3

Cpk1 33

Ppk)l..67

AEC-QlOO 010

引线完整性

LI

06

5个零件每一个的10个

引线

l

无破损或开裂

几DECJESD22-B105

应力测试缩写厂编号每批样品个数批数接受标准遵循的测试规范电迁移..7.

应力测试

缩写

厂编号

每批样

品个数

批数

接受标准

遵循的测试规范

电迁移

..7.- L如

E九I

勹，n...a.J.. IV

D1

经时介质击穿

TDlDB

D2

D3

热载流子注入

HCI

负偏压温度不稳

定性

NBTI

D4

应力迁移

SM

D5

应力测试缩写编号每批样品个数批数接受标准遵循的测试规范应力涓试前后功能参数TESTEl

应力测试

缩写

编号

每批样

品个数

批数

接受标准

遵循的测试规范

应力涓试前后功能参数

TEST

El

ALL

ALL

0Fails

测试项目根据供应者数据规格或用户

手册

0Fails

2KVHBM

人体模式／机器模式静电放电

HBM/l1!M

E2

参考测试规范

1

(H2或更

高）

200VMM

AEC-Qil00-002AEC—QlOO—003

好文档

俨让好胆友也石到

X

， r..＿..－

带电器件模式静电放电

COM

E3

参考测试规范

l

0Fails700V边角引脚500V其他引脚(C3B,或更

高）

AEC-QlOO—011

门锁效应

LU

E4

6

l

0Fails

AEC-iQI00-004

电分配

ED

E5

30

3

见AEC—

0100-009

AEC-:Ql00-009

故陓分级

FG

E6

见尪c-

Ql00-007

第4节

AEC-Ql00-007

特性描述

CHAR

E7

AEC-Q003

屯热效应引起的

枙漏

GL

E8

6

1

0Fails

AEC-Ql00-006

电磁兼容

EMC

E9

1 1

SAE Jl752/3－辐射

短路特性描述

SC

E10

10

3

0Fails

AEC-Ql00-012

软错误率

SER

Ell

3

1

JEDEC

无加速：JESD89-1

加速：JESD89—2或

」辽5[)89-3

应力测试缩写编号每批样品个数批数接受标准遵循的测试规沁部件平均测试PATFlAEC-QOOl统计良率分析SBAF27rAEC-Q002. - ...『

应力测试

缩写

编号

每批样

品个数

批数

接受标准

遵循的测试规沁

部件平均测试

PAT

Fl

AEC-QOOl

统计良率分析

SBA

F2

7

rAEC-Q002

!l\力测试|缩写I 编号1 : .J几

!l\力测试

|

缩写

I 编号1 : .J几 订

日n个数

批数

接受标准 遵循的测试规范

机械冲击 IMS IG1 | 3911 3!lloFail s BJ1ED04EC JESD22-

变频振动

IVFV

IG2

3911

31110

Fails

JEDEC JESD22-B103

恒加速应力

lcA

IG,3

|

3911

310

1

F ..1..

als

IIIMI-L STD883

Method2001

粗／细气漏 IGFL IG4

｀d,心 习L七工芯亡.,.下矗｀ I

3911

31110Fails MIL-STD883

Method1014

II

粗／细气漏

GFL

G4

39

3

0Fails

MIL-STD883

Method 1014

跌落测试

盖板扭力测试

DROP

G5

5

1

0Fails

LT

G6

5

1

0Fails

MIL STD883

Method 2024

芯片切断

5

1

0Fails

MIL STD883

Method 2019

DS