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一种晶圆测试方法、系统、电子设备及存储介质.pdfVIP

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  • 2024-03-30 发布于四川
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一种晶圆测试方法、系统、电子设备及存储介质.pdf

    本申请提供了一种晶圆测试方法、系统、电子设备及存储介质，该方法包括：主测试机与探针标识对应的探针进行通信连接，并将芯片测试信息数据发送给各从测试机标识对应的各从测试机，使各从测试机标识对应的从测试机进行晶圆测试前的初始化；主测试机在接收到探针发送的通信连接成功标识、所有从测试机标识对应的从测试机发送的初始化完成标识后，向客户端发送晶圆测试开始请求；主测试机接收到晶圆测试开始指令后，从探针中获取待测试晶圆信息对应的待测试芯片信息；主测试机将所有待测试芯片信息分配给各从测试机标识对应的从测试机，以使

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN117790346A

    (43)申请公布日2024.03.29

    (21)申请号202311617478.4

    (22)申请日2023.11.29

    (71)申请人上海孤波科技有限公司

    地址20

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