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主讲人：胡觉昆明理工大学KunmingUniversityofScienceandTechnology材料测试分析方法X射线荧光光谱分析

目录01X-射线荧光的产生及分析原理02X-射线荧光光谱仪的类型03X射线荧光光谱分析方法的应用04X射线荧光光谱仪制样方法05X射线荧光光谱法的特点

01X-射线荧光的产生及分析原理

一、X-射线荧光的产生及分析原理X射线荧光光谱的英文名字是X-rayFluorescencespectrum，简称为XRF，是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。主要用于金属元素的测定，在环境科学、高纯物质、矿物、水质监控、生物制品和医学分析等方面有广泛的应用。

一、X-射线荧光的产生及分析原理用X射线照射物质，当照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴。处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。（1）X射线荧光的产生X射线激发内层电子跃迁↑空穴外层电子跃迁填补↓X射线荧光X射线荧光谱线的能量等于原子内壳层电子的能级差，即原子特定的电子层间跃迁能量。只要测出一系列X射线荧光谱线的波长，即能确定元素的种类；测得谱线强度并与标准样品比较，即可确定该元素的含量。由此建立了X射线