原创力文档- 1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
本发明公开了一种存储芯片稀疏失效单元电路的修复方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：芯片测试机获取失效单元电路信息，为特定区域的失效单元分配修复方案，并将剩余的稀疏失效单元信息存储到哈希表中，在任一区域，构建X‑Y和Y‑X哈希表结构，X坐标和Y坐标的覆盖度矩阵和影响作用度矩阵，计算每个坐标的影响作用度；根据覆盖度和影响作用度，选择优先修复的坐标，若行和列备用电路未用完，优先修复覆盖度最大且影响作用度最小的坐标；若仅行或列备用电路用完，则直接修复对应的覆盖度集合，重复上述过程，直到哈希表中的信息被
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117831596A
(43)申请公布日2024.04.05
(21)申请号202410245295.2
(22)申请日2024.03.05
(71)申请人悦芯科技股份有限
文档评论（0）