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2024-04-06 发布于四川
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本发明涉及对像素块进行上采样。提供了用于对输入像素块进行上采样以确定上采样像素块的方法和处理模块。所述上采样像素中的至少一个是对角像素，其中对角像素处于不在所述输入像素块中的输入像素的任何行或任何列中的位置。确定所述输入像素块的图像梯度指示。使用所确定的图像梯度指示来确定指示对角内核的权重的一个或多个加权参数。通过将内核应用于所述输入像素块来确定所述上采样像素块的所述上采样像素，其中所述上采样像素块中的所述对角像素是通过根据所述所确定的一个或多个加权参数将所述对角内核应用于所述输入像素块来确定的

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117830093A

(43)申请公布日2024.04.05

(21)申请号202311257869.XG06T5/73(2024.01)

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