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本实用新型涉及一种基于IF位移的涡旋光束拓扑荷测量系统，包括一涡旋光束，所述涡旋光束依次经过光阑A、光阑B、透镜A、偏振片A和四分之一波片A的作用输出右旋圆偏振涡旋光束，所述右旋圆偏振涡旋光束以布儒斯特角入射到棱镜上，经过棱镜反射作用射出反射光束，所述反射光束依次经过涡旋波片、四分之一波片B、半波片、偏振片B和透镜B作用获取所需的偏振态，最后所述反射光束入射到象限探测器上，通过象限探测器测量出放大后的IF位移。本测量系统能够精准、快速、低成本的测量出IF位移，然后利用IF位移与拓扑荷之间的正比关
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220751384U
(45)授权公告日2024.04.09
(21)申请号202322636918.2
(22)申请日2023.09.27
(73)专利权人太原科技大学
地址03002
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