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本发明涉及辐射监测技术领域，公开了一种γ核素的粒径分布测量方法，包括：初始样品的测量：将吸附在样品容器壁上的放射性核素样品及残留在样品容器壁上的放射性核素样品进行测量，测量完成后，将样品进行后续分离；空白样品的测量：将每种孔径的滤膜随机挑选多张，将滤膜制作为指定的几何形状，放入高纯锗γ谱仪中测量；放射性核素粒径的分离：根据初始样品的测量结果，以其中放射性活度浓度最高的一种核素测量结果由低到高排序，依次进行分离；放射性核素粒径的测量：将同组同一粒径的滤膜放置在表面皿上并编号，放入烘箱中烘干至恒重后
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN117848911A
(43)申请公布日2024.04.09
(21)申请号202311623872.9
(22)申请日2023.11.30
(71)申请人中广核工程有限公司
地址518
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