tdlte基站射频测试步骤详解.docx

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TDLTE基站射频测试步骤详解

TD-LTE基站射频测试操作说明

第一部分TX测试

一、TX测试连接图

频谱分析仪

频谱分析仪

Trigger

BBU

Reference

衰减器

RRH

Note:衰减为输出功率2.5倍以上,此处选择30dB.

10MH参考线时钟线reference接BBU针孔,10毫秒trigger接B板最

右边网口.

二、仪表等附件内容

频谱分析仪(AgilentMXASignalAnalyzerN9020A,10Hz~13.6GHz),3

0dB衰减,SystemDCPower7Supply(AgilentN5747A/60V/12.5A/750W),V

GA信号源。

LTENEM,SecureCRT。

三、NEM操作系统配置

3LE

3LE班:R1130

FSa

用解

Fdc,fetg

tdedXmsTk

fmdc-jrtm

hmteCap+ha**

LM1

0mMe的

BCH

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TDLTE基站射频测试步骤详解

四、频谱仪选键设置

Step1.选择LTE模式,PressMode,LTETDD。

Step2.频点设置FREQChannel

Step3。频点补偿设置Input/Output,ExternalGain,BTS

Step4。下行模式设置ModeSetup,Radio,DirectiontobeDownlink.

Step5.链路配置设ModeSetup,Radio,ULDLAlloc,Config3;DW/GP/UpLen,

More,Config8。

Step6.时间门限设置Sweep/control,Gate,GateDelay=5ms,GateLength=6。

8ms

Step7。带宽设置Modesetup,PrestToStandard=10/20MHz

Step8。触发方式设置Trigger,External1/2

配置完后频谱分析仪显示如下:

BTS

BTS-31.0048

Kiaet

票Ret30dBm

aanun

Brs

Certer1.89CHz

Span50

WResBW100KHZ

VEW1MHe

Sweep4.667ms

CamsrFrestn00cooooG

TngEnamait

ARemEnGamdtme

TimsSretso

BV20*zrS6RB)

Eaimrh

TDLTE基站射频测试步骤详解

五、下行发射项测试操作步骤

1.输出功率OutputPower

测试项选择MeasC测试模式E-TM1。1

t

GateDelay5.0000ms

tmmto

0aEldi

hanne

Gd

lpower

CentseFree1800000CC0OH

TneEatemattAnlHaideano

#Anem.16-dBEatGain:21.00a

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