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- 2024-04-21 发布于四川
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本实用新型提供了一种驱动芯片的测试装置,所述测试装置包括:差分信号输入电路、单端信号输入电路、差分信号输出电路、单端信号输出电路和电源电路;通过差分信号输入电路和将单端输入信号转换成差分信号的单端信号输入电路分别实现外部差分信号输入设备和外部单端信号输入设备与驱动芯片的输入端相连;通过差分信号输出电路和将驱动芯片输出的差分输出信号转换成单端信号的单端信号输出电路,分别实现外部差分信号测试设备和外部单端信号测试设备接收驱动芯片的差分输出信号;因此,本实用新型可以任意选择差分设备或单端设备进行测试信
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号CN220820165U
(45)授权公告日2024.04.19
(21)申请号202322249929.5
(22)申请日2023.08.21
(73)专利权人重庆东微电子股份有限公司
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