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半导体物理实验复习思考题
一、四探针法测量半导体电阻率实验：
1.半导体材料包括哪些重要的电学性能，与哪些因素密切相关？
2.为什么要用四探针进行测量，如果只用两根探针，能否对半导体电阻率准确测量？
3.什么叫薄层（方块）电阻，它有什么特性？
4.分析直流四探针法测量半导体材料电阻率的基本原理，并推导电阻率测量公式。
5.如何选择合适的测量电流？
6.测量电阻率误差的来源有哪些，如何修正？
二、少数载流子寿命测量实验：
1．什么是多数载流子？什么是少数载流子？
2.什么是非平衡载流子？什么叫做光注入？
3.为什么要测量并且一般只测量少数载流子寿命？
4.少数载流子寿命的物理意义。
5．分析示波器显示曲线的变化规律，如何利用其测量少子寿命？
6．影响少子寿命的因素有哪些。
三、X射线衍射分析晶体结构实验：
X射线的波长范围是多少，它是如何产生的？
简述X射线在近代物理学发展史上的重要地位及意义。
X射线在晶体中产生衍射的条件？
X射线在晶体中产生的衍射方向和衍射强度分别取决于什么？
X射线衍射仪包括哪几个主要部分，各自基本工作原理是什么？
实验基本操作步骤如何，为什么实验中要首先打开并保证冷却水运行？
为什么我们在使用X射线衍射仪进行晶体结构分析实验时最好使用粉末样品？
如何根据被测样品的衍射图谱确定其物相？
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