SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法.pdf

中华人民共和国电子行业标准

FL6132SJ21160-2016

微波组件低气压检漏试验方法

Lowpressureleakdetectiontestmethodformicrowaveassembly

SJ21160-2016

目lj吕

SJ21160-2016

微波组件低气压检漏试验方法

1范围

本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。

本标准适用于频率大于300阳z的微波组件密封性能的检测。

2规范性引用文件

可单下有使用（这不列一包一文此件含勘中改的’d条月6-J引用文件，其随后所有的

_1皿气准达成协议的各方研究

ZJIi标准。

当漏子

体，漏孔

样口ι

口口口

真空表

SJ21160-2016

4一般要求

4.1人员

4.1.1试验人员应经过设备操作及试验程序上岗培训，具备上岗资格。

4.1.2试验人员应穿着防静电服、防静电鞋，佩戴防静电腕带。

4.2环境

试验室环境要求如下：

a)温度：15℃～35℃；

b)大气压力：“kPa～106kPa;

c)相对湿度：20%～80%;

d)静电防护应满足GJB3007的规定。

试验室内其他环境条件应满足相关规范的要求。

4.3校准

试验设备均按GJB2712的要求进行校准。校准过的设备应在校准有效期内使用，并以适当的方式控

制、使用和存放，以保证其校准状态。

4.4试验设备

4.4.1低气压试验箱

低气压试验箱要求如下：

a)试验设备运行可靠，降压速率可调，压力能够保持；

b)真空压力能够保证低至4kPa;

c)能提供满足试验要求的观察窗。

4.4.2透明试验箱

透明试验箱要求如下：

a)敞口试验箱容积应足够大，以使试验样品能够完全浸没，试验样品最上部分在液体中浸没深度

不小于50mm;

b)采用的去离子水应清洁无杂质，电阻率约为18MO•cm;

c)试验箱目视气泡区域的光照度应不小于1.6×105lx，光源放置位置应对观察者无强烈的入射和

反射光。必要时可在容器前方放置4倍～10倍的放大镜，当把试验样品浸入试验液体中时，能

够观测到样品中冒出的气泡；

d)试验箱的背景应由粗糙、不反光的黑色材料构成。

4.4.3样品台

SJ21160-2016

5试验程序与方法

5.1试验前准备

5.1.1透明试验箱清洁及更换去离子水

应及时更换去离子水并清洁试验箱，以免液体中杂质堵塞样品漏孔或干扰气泡的观察效果。

5.1.2组件预处理

在标准大气环境条件下，清洁被检件，去除标签、油脂、粉尘等污物，避免堵塞漏孔或生成气泡造

成错误的显示并进行干燥处理。

5.2试验

5.2.1检漏设备检查

设备应良好接地，并确保设备具有良好的抽真空性，以便于气泡观察。

5.2.2预抽气

将盛有去离子水的试验箱放置在低气压箱中，启动试验设备，开启真空抽气系统，使真空室内压力

由正常环境