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厚膜片式电阻器硫化机理及失效原因分析.pdf

厚膜片式电阻器硫化机理及失效原因分析

摘要：随着经济的发展，电源产品的应用逐渐广泛，而其中密封和散热问题是

电源产品在生产时需要考虑的重要问题。目前，通过DC/DC模块来进行电源散热

的应用较为广泛，但此种防抖会刀子厚膜片式电阻阻值增大，导致出现故障。在

本文中，笔者将利用DC/DC模块对电阻进行硫化实验，从而分析出电源失效的原

因，并且利用扫描电镜以及能谱的分析，从而深入探析导致电阻器的硫化的原因。

关键词：厚膜片式；电阻器；硫化机理；失效原因

对存在故障的DC/DC模块进行分析发现，在故障元件中，很多是因为厚膜片

式电阻器由于过压或者过功率导致的电阻阻值增大，最终导致开路问题。在本文

中，在进行电路的分析和计算中发现，电阻的电压额降和功率额降能够满足设计

要求，同时存在着很大的富余，但这样仍然使得厚膜片式电阻器的损坏程度较高。

一些研究人员认为这是由于厚膜片式电阻器的本身质量存在缺陷，在投入使用后

会发生老化现象，但是在进行可靠性实验的过程中没有将这一缺点暴露出来，当

投入使用后为什么会出现诸多的问题呢，因此说，厚膜片式电阻器的失效原因仍

然有待探索

1、电阻硫化产生的原因探析

对于电阻硫化的部位，仅仅出现与厚膜片式电阻器上，而对于其他的电阻器