漆面保护用聚氨酯薄膜-规范要求.docx

3.4

漆面保护用聚氨酯薄膜

1范围

本文件规定了漆面保护用聚氨酯薄膜的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、

包装、运输与贮存等。

本文件适用于漆面保护用聚氨酯薄膜生产方声明产品的符合性，或作为生产方与采购方签

订合同的依据，也可作为第三方对产品合格判定的依据。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有

的修改单）适用于本文件。

GB/T1040.1塑料拉伸性能的测定第1部分总则

GB/T1040.3塑料拉伸性能的测定第3部分薄膜和薄片的试验条件

GB/T2410透明塑料透光率和雾度的测定

GB/T2918塑料试样状态调节和试验的标准环境

GB/T6672塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法

GB/T6673塑料薄膜和薄片长度和宽度的测定

QC/T1171-2022汽车漆面保护膜

TCSTM01150-2024漆面保护膜用脂肪族热塑性聚氨酯(TPU)颗粒料

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

漆面保护用聚氨酯薄膜Polyurethanefilmforpaintprotection

漆面保护用聚氨酯薄膜是指以热塑性聚氨酯(TPU)为原材料加工而成的漆面保护膜基膜，

加工后成品膜用于汽车车身、家具的面漆及零部件保护的产品。

3.2

压痕dent

膜层表面因受外力挤压形成的不可恢复的痕迹。

3.3

流痕flowline

因生产工艺不均在膜面形成的痕迹。

皱褶crease

膜上不可恢复的折痕。

3.5

晶点杂质fisheye

薄膜中不同于周围均匀区域、肉眼可见的圆开或其他不规则图形的凝固体。

3.6

异物inclusion

成份与膜不一致且无法清除的杂质。

3.7

粉化chalking

膜层因老化降解而呈现出表面疏松且附着有粉末的外观现象。

3.8

失光lossofgloss

膜层老化后明显失去光泽的现象。

3.9

析出blooming

膜层中粉状、油状或其它物质迁移至表面的一种现象。

4要求

4.1外观

本产品的外观应符合表1的规定。

表1漆面保护用聚氨酯薄膜的外观要求

检验项目

单位

缺陷尺寸

要求

检验方式

表面晶点

（与薄膜成分一致的透明状固体缺陷）

个/

㎡

直径≤1.0mm

不允许密集

目视

1.0mm直径≤1.6mm

≤3

目视

1.6mm直径≤3.0mm

≤1

目视

直径＞3.0mm

0

目视

线状缺陷：压痕、流痕

（卷头卷尾5米以外）

个/

㎡

长度＞10mm,或宽度＞2mm

0

目视

长度≤10mm

≤1

目视

皱褶/异物

（卷头卷尾5米以外）

个/

㎡

边位5cm以内

≤1

目视

中间位置循环出现

0

目视

4.2理化性能

本产品的理化性能应符合表2的规定。

表2漆面保护用聚氨酯薄膜的理化性能

检验项目

单位

要求

测试标准

厚度

um

≥100:±5

GB/T6672

100:±3

GB/T6672

幅宽

mm

规格±5

GB/T6673

拉伸强度

MPa

≥35

GB/T1040

拉伸断裂应变

%

≥300

GB/T1040

撕裂强度（直角无割口）

N/mm

≥60

QC/T1171-2022

TPU与衬底180。剥离力

N

≤6

按本团标5.8进行

耐氙灯老化性能

——

?YI≤1.4,ΔE≤1.0，Δb≤0.8

QC/T1171-2022

耐湿热老化性能

——

无气泡、粉化、开裂、变色和失光现象

按本团标5.10进行

透光率

%

≥90

GB/T2410

雾度

%

≤1.5

GB/T2410

抗析出雾度

%

≤2.0

按本团标5.12进行

抗析出目视

——

无析出

TCSTM01150-2024

注：若有其他尺寸规格薄膜，测试指标可与客户协商。

5试验方法

5.1取样方法

从薄膜卷上取样时，应至少先剥去最外3层薄膜，再按有关性能的要求取样。

5.2试样调节

薄膜调节按照GB/T2918规定执行，放置于温度23℃±2℃、相对湿度50%±10%的环境中进

行调节，调节时间不少于24h，并在该环境下进行性能测试。

5.3外观

除特殊规定外，应在具有良好自然光或散射光背景光照条件下，距观察对象正面500mm处进行目视观察或检查，测试时，每个试样由两人分别测定，以两人测定结果的算术平均值作

为最终结果。必要时可用点线规菲林卡来测量。

5.3.1表面晶点

选取宽度、长度各100cm±1cm的正方形薄膜，统计以下晶点杂质数量：

1）统计直径≤1.0mm的晶点杂质个数；

2）统计1.0m