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常见的电子元器件失效机理与分析本章介绍了电子元器件失效的基本理论和基本案例电子元器件的主要失效模式包括开路短路烧毁爆炸漏电功能失效电参数漂移非稳定失效等这些失效模式会对电子元件的性能造成严重影响，如降低电子设备的效率和可靠性因此，理解电子元器件失效机理并掌握其基本原理至关重要本文主要分析了常见电子元器件失效的原因，包括电源供应不稳定外部干扰以及器件老化等通过讨论这些失效原因，我们可以更好地理解和预测电子元器件的失效状态此外，文章还指出了电子元器件失效的危害，
常见的电子元器件失效机理与分析
常见的电子元器件失效机理与分析
电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、
功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个格外麻烦的事情，比方某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。
硬件工程师调试爆炸现场
所以把握各类电子元器件的实效机理与特性是硬件工程师比不行少的学问。下面分类细叙一下各类电子元器件的失效模式与机理。
电阻器失效
失效模式：各种失效的现象及其表现的形式。失效机理：是导致失效的物理、化学、热力学或其他过程。
电阻器的失效模式与机理
?开路
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