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- 2024-05-25 发布于四川
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本发明涉及一种基于深度学习的半导体SEM图像降噪方法,包括训练阶段和推理阶段,其中,训练阶段包括:对半导体SEM图像进行预处理;构建训练数据集;对训练数据集中的图片掺入多种强度的噪声;分别训练分类模型、分割模型、降噪模型;推理阶段包括:对待降噪的半导体SEM图像进行图像预处理;使用分割模型对图片进行切分,并进行噪声强度预测,根据预测后的结果,选择对应强度的置信度矩阵;通过训练完成的降噪模型对待识别的半导体SEM图像进行调用对应预测强度的降噪参数进行降噪,得到降噪的图片后,进行图像合并;通过锐化核
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118071631A
(43)申请公布日2024.05.24
(21)申请号202410224958.2G06N3/0464(2023.01)
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