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锗γ谱仪活度标准装置检定规程

本规程适用于新制造、使用中和修理后的同轴锗(锂)γ谱仪或同轴高纯锗γ谱仪活度测量标准装置的检定。γ射线的能量范围60~1408keV,点源活度3.7×103~3.7×10?Bq。

一概述

锗(锂)γ谱仪和高纯锗γ谱仪用于测量放射源的γ发射率或放射性活度。

锗Y谱仪由锗探测器、高压电源、前置放大器、谱放大器、多道脉冲幅度分析器和数据处理系统组成。Y射线与探测器相互作用，产生电脉冲信号由电子学系统分析和计数。根据γ能谱中被测核素某特征γ射线的全吸收峰净面积计数率和探测器对该γ射线的探测效率(用标准源进行刻度),可以得到此Y射线的γ发射率，再根据该γ射线的发射几率，便可以得到该核素的活度。

二技术要求

1γ谱仪中电子学仪器的性能应符合说明书给出的指标。

2探测器的能量分辨率应好于2.5keV(对°°Co的1332keVγ射线)。

3谱仪系统24小时内峰位漂移不超过0.02%,峰净面积测量的稳定度应好于0.2%(谱仪预热稳定以后).

4讲仪要配有堆积抑制器，有良好的抗堆积性能，当总计数率≤103计数·s~!时堆积损失小于0.15%。

5谱仪要配有性能良好的计算机谱分析软件，减连续谱本底求峰净面积的一致性好于0.3%。

6探测器要配有放射源支架，使放射源轴向位置和在轴线的垂直方向位置的不一致性对探测效率不确定度的贡献分别小于0.03%。

7谱仪应配备有长寿命的、高中低能区至少各有一条γ射线的

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监督源，以监督谱仪的长期稳定性。

8谱仪在60～1408keV能区内测量γ发别率的量程为4×103~4×10?s-1,总不确定度(1.5～5)%(32)。

9“Co、Ba、’’Am别为(2～4)×10?Bg、

三检定条件

点状Y标准源各一个，效率校准用，活度分(1～2)×10?Bq和(1～2)×10°Bq,总不

确定度分别为1%、2.5%和1%。源斑直径≤2mm,偏离中心1,5mm。源托厚度4±0.05mm,源托膜位于中间。源自吸收和源与源之间膜吸收的不一致性均小于0.1%。

10“Eu点状Y源一个，效率校准用，活度(1～2)×10?Bq,“Eu杂质含量小于0.2%。源的几何条件同第9条。

11“Co、Cs、“Zn点状γ标准源各一个，活度检定用，活度分别为(2～4)×10“Bq、(0.5～1)×103Bq和(2~3)×10°Bq,总不确定度分别为1.5%、2%和2.5%。源的几何条件同第9条。

12“Cs和/或“Co点状γ源各一个，活度(2～4)×10?Bq,用以进行各种性能试验。

13选择适当的源-探测器距离或放射源活度控制测量的总计数率，使堆积损失小于0.15%.

14选择适当的源-探测器距离使符合相加效应尽量小，或者进行符合相加修正，使对峰净面积不确定度的贡献小于0.07%。

15准备专门的放射源托板，可使源在轴向及轴线的垂直方向分别做0.5～3mm及1～10mm的位置变动，以便进行源几何位置试验.

16实验室内无放射性污染，环境本底对活度测量结果不确定度的贡献小于0.1%。

17实验室附近不得有强电磁场干扰。谱仪要用交流稳压电源供电。

18实验室内有空调设备，测量时室温保持在[20(或22)±1]℃,相对湿度75%,

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四检定项目和检定方法

(一)γ谱仪性能试验

必要时，对被检谐仪进行下面的部分或全部性能试验。

19按通常方法启动谱仪系统，使处于正常的工作状态。把C。标准源放在测量位置上收集一个谱，测量1332keV的能量分辨率。

20能量刻度。能量刻度是建立谱仪道数与γ射线能量之间的关系。用*Eu源测一Y谱，找出主要γ射线或X射线峰位所在的道数.,它们相应的能量为E?,4为Y或X射线的标帜号，用多项式(一般为二次)拟合实验点(,,E?),得到能量对道数的函数E()。

21稳定性试验。用Cs和/或“Co源，一开机就以相等的时间重复收集谱数据，每次峰净面积大于3×10?计数，共测24小时。记下每次的峰位,,蜂净面积a;和开始测量的时刻t,,画出;-t;和a?-tt图线，找出峰位和峰净面积进入稳定值的时刻，定出磨仪的预热时间。从谱仪稳