光耦合器实验.docx

全 光 纤 耦 合 器 件

摘要：简述熔融拉锥法制作全光纤耦合器件的原理，进而讨论全光纤耦合器的工作原理，并对未知耦合器件进行测试，具体分析其参数。

一、 实验原理

熔融拉锥法

熔融拉锥法是将2根出去涂覆层的光纤以一定方式靠拢，然后置于高温下加热熔融，同时向光纤两端拉伸，最终在加入形成双锥形式的特殊波导耦合结构，从而实现光纤耦合的一种方法。熔融拉锥法示意图如图1：

图1熔融拉锥法示意图

光纤耦合器工作原理

图2所示为熔融拉纤耦合器的结构模型。

锥型光

其中：W

2

和W分别

3

为耦合

图2光纤耦合器结构模型结构熔锥区II和III

图2光纤耦合器结构模型

烧时的拉伸长度；W

1

为耦合区I的火焰宽度。耦合区的两光纤熔烧时逐渐变

细，两纤芯可以忽略不计，两包层合并在一起形成以包层为纤芯、芯外介质

（空气）为新包层的复合波导结构，实现两光纤的完全耦合。

当入射光从输入端1进入熔锥区II后，由于淡漠光纤的传导膜为2个正交的基膜信号，因此，光纤参量V随着纤芯的变细而逐渐变小，导致越来越多的光渗入包层；进入耦合区I后，由于两光纤合并在一起，光在以新的包层为纤芯的复合波导中传输，并使光功率发生再分配；当光进入熔锥区III后，光纤参量V随着纤芯的变粗而逐渐增大，并使光以特定比例从输出端输

出，即一部分光从直通臂直接输出，另一部分光从耦合臂输出。

在耦合区I，由于两光纤包层合并在一起，纤芯足够逼近，因此，耦合器为两波导构成的弱耦合结构。根据若耦合模理论：相耦合的两波导中的场，各保持该波导独立存在是的场分布和传输系数，耦合的影响仅表现在场的复振幅的变化。假设光纤是无吸收的，则随拉伸长度Z不断变化，其变化规律可用一阶微分方程组表示如下：

式中：A

1

和A为两光纤的模场振幅； 和 为两光纤在孤立状态下的传

2

播常数； 和 为子耦合系数； 和 为互耦合系数。自耦合系数相对于互耦合系数很小，可以忽略，且近似有 。当方程在z=0时满

足A(z)=A(0),A(z)=A

(0)，其解为：

1 1 2 2

其中：

为两传播常数的平均值；

F2为光纤之间耦合的最大功率；C为耦合系数，与工艺有关。

两输出端口的光功率为：

假定光功率由光纤输入端1进入，且归一化入射光功率A

(0)=1，A

1

(0)=0，

2

则P(0)=1，P

3

(0)=0。若采用同种光纤进行耦合， ，故F2=1，有：

4

可知两输出功率周期性变化，且周期变化的快慢与耦合系数C及拉伸长度有关。光功率在两耦合光纤间周期性地切换，当耦合系数C确定后，调整拉伸长度，可以制作任意分光比的耦合器。

全光纤耦合器件参数

插入损耗(InsertionLoss,I.L.)：无源器件的第i个输出端口和输入端口之间的光功率的比值(dB):

其中，P

outi

是第i个输出端口的光功率，P

in

是输入端口的光功率。

附加损耗(ExcessLoss,E.L.)：功率分配耦合器的所有输出端口光功率总和相对于输入光功率的损失：

分光比(SplitRatio,S.R.)：耦合器件个输出端口分配的比值，可以表示为个输出端的比值，或者每个输出端与总输出的比值：

或

方向性(DirectivityLoss,D.L.)：输入一侧，肥猪如光的某一端口的反向输出光功率与输入功率的比值，标准X和Y型一般D.L.60dB。：

其中P

R

表示非注入光的某一输入端口的反向输出光功率，P

in

表示指

定输入端口注入的光功率。

均匀度：对于要求均匀分光的耦合器定义在工作带宽内各输出端口输出光功率的最大变化量：

偏振相关损耗(PolarizationDependentLoss,P.D.L)：光信号以不同的偏振态输入时，对应输出端口插入损耗最大变化值。

二、 实验用具与装置图

1.稳 定 化 光 源

OSS-155C（波长

1550nm）、光功率计、

光纤放大器(EDFA)、 图3 2×2耦合器DWF0250A00111

掺 饵跳线、

适配器、偏振控制器、镜头纸。

2.耦合器DWFC0250A001111（单模1310或1550宽带，分光比1：1）三、 实验记录与数据处理

实验目的在于测量2X2耦合器的参数，先测量光源光功率，后连入耦合器对各端口进行测量，即可测得耦合器参数。每次读数后拔出功率计光纤，于擦镜纸擦净后重复测量，排除光纤接头灰尘对测量的影响。

光源光功率测量

打开光源电源，稳压器，使用标准跳线接入光功率计，待光源稳定后，记录光源光功率，数据如下表1,采用?W与dBm两种读数：

表格1光源功率记录表

n

1