原创力文档《半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（ddr3sdram）测试方法GB/T36474-2018》详细解读
contents目录1范围2规范性引用文件3术语和定义4一般要求4.1通则4.2功能验证的一般要求4.3电参数测试的测试向量4.4电参数测试的示波器
contents目录4.5测试环境5详细要求5.1功能验证5.2时钟5.3读数据参数5.4写数据参数5.5电源电流(IDD)/数据管脚的电源电流(IDDQ)
011范围
涵盖的产品类型本标准适用于第三代双倍数据速率同步动态随机存储器（DDR3SDRAM）的测试。涵盖不
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