材料分析方法试题及答案.docx

材料现代分析方法试题2〔参考答案〕

一、根本概念题〔共10题，每题5分〕

试验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？一个以Fe为主要成分的样品，试选择适宜的X射线管和适宜的滤波片？

答：试验中选择X射线管的原则是为避开或削减产生荧光辐射，应当避开使用比样品中主元素的原子序数大2~6〔尤其是2〕的材料作靶材的X射线管。

选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，

以滤掉K线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般承受比靶材的原子序数小1

β

或2的材料。

分析以铁为主的样品，应中选用Co或Fe靶的X射线管，它们的分别相应选择Fe和Mn为滤波片。

下面是某立方晶系物质的几个晶面，试将它们的面间距从大到小按次序重排列：〔12〕，〔100〕，〔200〕，〔11〕，〔121〕，〔111〕，〔10〕，

〔220〕，〔130〕，〔030〕，〔21〕，〔110〕。

答：它们的面间距从大到小按次序是：〔100〕、〔110〕、〔111〕、〔200〕、

〔10〕、〔121〕、〔220〕、〔21〕、〔030〕、〔130〕、〔11〕、〔12〕。

衍射线在空间的方位取决于什么？而衍射线的强度又取决于什么？答：衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距，或者晶胞的大小。衍射线的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。

罗伦兹因数是表示什么对衍射强度的影响？其表达式是综合了哪几方面考虑而得出的？

答：罗仑兹因数是三种几何因子对衍射强度的影响，第一种几何因子表示衍射的晶粒大小对衍射强度的影响，罗仑兹其次种几何因子表示晶粒数目对衍射强度的影响，罗仑兹第三种几何因子表示衍射线位置对衍射强度的影响。

磁透镜的像差是怎样产生的?如何来消退和削减像差?

答：像差分为球差,像散,色差.

球差是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射力量不同引起的.增大透镜的激磁电流可减小球差.

像散是由于电磁透镜的周向磁场不非旋转对称引起的.可以通过引入一强度和方位都可以调整的矫正磁场来进展补偿.

色差是电子波的波长或能量发生肯定幅度的转变而造成的.稳定加速电压和透镜电流可减小色差.

别从原理、衍射特点及应用方面比较X射线衍射和透射电镜中的电子衍射在材料构造分析中的异同点。

答：原理:X射线照耀晶体，电子受迫振动产生相干散射；同一原子内各电子散射波相互干预形成原子散射波；晶体内原子呈周期排列，因而各原子散射波间也存在固定的位相关系而产生干预作用，在某些方向上发生相长干预，即形成衍射。

特点:1〕电子波的波长比X射线短得多2〕电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内

电子衍射中略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射

电子衍射束的强度较大，拍摄衍射把戏时间短。

应用：硬X射线适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析，软X射线可用于非金属的分析。透射电镜主要用于形貌分析和电子衍射分析〔确定微区的晶体构造或晶体学性质〕

子束入射固体样品外表会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?

答：主要有六种：

背散射电子:能量高；来自样品外表几百nm深度范围；其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及构造分析。

二次电子:能量较低；来自表层5—10nm深度范围；对样品外表化状态格外敏感。

不能进展成分分析.主要用于分析样品外表形貌。

吸取电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补。

吸取电子能产生原子序数衬度，即可用来进展定性的微区成分分析.

透射电子：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体构造打算.可进展微区成分分析。

特征X射线:用特征值进展成分分析，来自样品较深的区域

俄歇电子:各元素的俄歇电子能量值很低；来自样品外表1—2nm范围。它适合做外表分析。

为波谱仪和能谱仪？说明其工作的三种根本方式，并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。

答：波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪：用来检测X射线的特征能量的仪器

优点:1〕能谱仪探测X射线的效率高。

在同一时间对分析点内全部元素X射线光子的能量进展测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。

构造简洁，稳定性和重现性都很好

不必聚焦，对样品外表无特别要求，适于粗糙外表分析。缺点：1〕区分率低.

能谱仪只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4

到92间的全部元素。

能谱仪的Si(Li)探头必需保持在低温态，因此必需时时用液氮冷却。

如何区分红外谱图中的醇与酚羟基的吸取峰？

答：它们的吸取峰的峰位不同。酚羟基在3610cm-1和1200cm-1存在吸取