半导体激光器P-I特性测试实验.pdfVIP

太原理工大学学生实验报告

学院名称信息工程学院专业班级信息0802实验成绩

学生姓名学号实验日期

课程名称光纤通信实验题目半导体激光器P-I特性测试实验

实验记录：

一、实验目的

1.学习半导体激光器发光原理和光纤通信中激光光源工作原理

2.了解半导体激光器平均输出光功率与注入驱动电流的关系

3.掌握半导体激光器P（平均发送光功率）-I（注入电流）曲线的测试方法

二、实验仪器

1.ZY12OFCom13BG型光纤通信原理实验箱1台

2.光功率计1台

3.FC/PC-FC/PC单模光跳线1根

4.万用表1台

5.连接导线20根

三、实验原理

半导体激光二极管（LD）或简称半导体激光器，它通过受激辐射发光，（处于高

能级E的电子在光场的感应下发射一个和感应光子一模一样的光子，而跃迁到低能级

2

E，这个过程称为光的受激辐射。所谓一模一样，是指发射光子和感应光子不仅频率

1

相同，而且相位、偏振方向和传播方向都相同，它和感应光子是相干的。）是一种阈

值器件。由于受激辐射与自发辐射的本质不同，导致了半导体激光器不仅能产生高功

率（≥10mW）辐射，而且输出光发散角窄（垂直发散角为30～50°，水平发散角为0～

30°），与单模光纤的耦合效率高（约30％～50％），辐射光谱线窄（Δλ＝～），适

用于高比特工作，载流子复合寿命短，能进行高速信号（20GHz）直接调制，非常适

合于作高速长距离光纤通信系统的光源。

P-I特性是选择半导体激光器的重要依据。在选择时，应选阈值电流I尽可能小，

th

I对应P值小，而且没有扭折点的半导体激光器，这样的激光器工作电流小，工作稳

th

定性高，消光比（测试方法见实验四）大，而且不易产生光信号失真。并且要求P-I

曲线的斜率适当。斜率太小，则要求驱动信号太大，给驱动电路带来麻烦；斜率太大，

则会出现光反射噪声及使自动光功率控制环路调整困难。半导体激光器具有高功率密

度和极高量子效率的特点，微小的电流变化会导致光功率输出变化，是光纤通信中最

重要的一种光源，半导体激光器可以看作为一种光学振荡器，要形成光的振荡，就必

须要有光放大机制，也即激活介质处于粒子数反转分布，而且产生的增益足以抵消所

有的损耗。将开始出现净增益的条件称为阈值条件。一般用注入电流值来标定阈值条

件，也即阈值电流I，当输入电流小于I时，其输出光为非相干的荧光，类似于LED

thth

发出的光，当电流大于I时，输出光为激光，且输入电流和输出光功率成线性关系。

th

该实验就是对该线性关系进行测量，以测试半导体激光器的P-I线性关系。在实验中

所用到半导体激光器输出波长为1310nm，带尾纤及FC型接口。