用于将逻辑集成电路的逻辑功能测试数据映射为物理表述的集成电路测试软件系统.pdfVIP

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(10)申请公布号CN1342318A

(43)申请公布日2002.03.27

(21)申请号C8

(22)申请日1999.11.12

(71)申请人依莱克特罗格莱斯有限公司;德州仪器公司

地址美国加利福尼亚州

(72)发明人肖恩·史密斯哈利·巴拉钱得兰杰森·帕克斯蒂芬妮·沃茨巴特勒

(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司

代理人余刚

(51)Int.CI

G11C29/00

G01R31/28

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

用于将逻辑集成电路的逻辑功能测

试数据映射为物理表述的集成电路测试软

件系统

(57)摘要

本发明总的来说,通过将经过模拟模

型的数字逻辑芯片所具有的功能测试数据

进行转换,利用如前所述的功能确定和显示

与网络名相对应的X、Y坐标。这个模拟

模型可以识别芯片的一个或多个缺陷网

络。依据如前所述类型的数据库对缺陷网

络进行处理,得到这些网络的X、Y坐标数

据,允许将这些坐标在芯片布局上以物理轨

迹的形式被记录下来。在典型的实施例中,

通过获取功能测试器的输出,并将故障扫描

链列表(124)转换(126)为可疑的网络列表节

点(129)来实现这种映射。然后识别可疑的

网络列表节点的X、Y坐标并将其存储在

数据库中,给出了故障分析并向增长产量的

工程师提供了起始点,起始点用于进行故障

分析和迅速判断行中检测数据是否可以解

释已知故障。然后,这些节点从电路设计交

互映射到设计中复合光掩模层的每一层芯

片布局中。详细的故障数据被收集并作为

综合程序的一部分存储到晶片层而不是作

为一项所需的基本程序存储到封装层。因

此可以用完全自动的方式得到大量高质量

的数据,而不是相反的以极度费力的方式得

到相对较少的相对低质量的数据。

法律状态

法律状态公告日法律状态信息法律状态

权利要求说明书

1.一种半导体集成电路测试中的自动检测缺陷定位的方法，包括以下步骤：

测试集成电路以得到大体的故障区域；

将大体的故障区域数据输入电路分析工具中；

从电路分析工具中得到第一次可能的缺陷数据；

执行集成芯片的行中检测得到第二次可能的缺陷数据；以及

并将第一次和第二次的数据关联起来定位可能的缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，将大体的故障数据输入到电路分析工具中，

并从电路分析中得到第一次被定位的可能的缺陷数据的过程，使用至少一台已编程

的计算机连续完成。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，将第一次和第二次被定位的可能的缺陷数据

的关联起来定位可能的缺陷，包括生成第一次和第二次被定位的可能的缺陷数据的

可视化覆盖。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，集成电路是具有内置自检测能力的逻辑电路。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，大体故障数据是通过使用集成电路的行尾测

试得到的。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，集成电路在晶片形式下被测试。

7.根据权利要求1所述的方法，其中，从电路分析得到的第一次被定位的可能缺陷

包括：

建立数据库；并依据此数据库对逻辑缺陷数据进行处理得到物理缺陷数据；以及

用数据库处理逻辑缺陷数据以得到物理缺陷数据。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，建立数据库包括将设计信息从第一格式翻译

为第二格式。

9.一个测试半导体集成电路的系统，包括：

电路分析工具；以及

自动的方式包括：

将大体的缺陷数据应用于电路分析工具；

从电路分析工具得到被定位的可能的缺陷数据；

以标准格式表示被定位的可能的缺陷数据；以及

将被定位的可能的缺陷数据存储到多客户端可用的数据库服务器上。

说明书

本发明所属技术领域

本发明涉及集成电路