GB_T 18858.3-2012 低压开关设备和控制设备控制器设备接口(CDI) 第3部分：DeviceNet 含2014年第1号修改单.docx

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GB/T?18858.3-2012《低压开关设备和控制设备

控制器-设备接口（CDI）第?3?部分：DeviceNet》

国家标准第?1?号修改单

一、8.9.2.1?中的“标准?A”修改为：

判据?A：设备在试验过程中及试验结束后应可持续按预期方式

运行，表?56?所示的任意性能退化状况应视为试验失败。

二、8.9.2.1?中的“标准?B”修改为：

判据?B：在试验过程中，不允许实际操作状态及存贮的数据变

化，表?56?所示的任意性能退化状况均应视为试验失败，设备在试

验结束后应可持续按预期方式运行。

三、表?56?中“1?出错位置位/10?次传送”修改为：

“1?出错位置位/10?次传送（帧）”

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该用户很懒，什么也没介绍

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