SMART技术检测磁盘故障参数.docx

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SMART检测参数说明

一般状况下，用户只要观看当前值、最差值和临界值的关系，并留意状态提

一般状况下，用户只要观看当前值、最差值和临界值的关系，并留意状态提示信息即可大致了解硬盘的安康状况。下面简洁介绍各参数的含义，以红色标出的工程是寿命关键项，蓝色为固态硬盘〔SSD〕特有的工程。

在基于闪存的固态硬盘中，存储单元分为两类：SLC〔SingleLayerCell，单层单元〕和MLC〔Multi-LevelCell，多层单元〕。SLC本钱高、容量小、但读写速度快，牢靠性高，擦写次数可高达100000次，比MLC高10倍。而MLC虽容量大、本钱低，但其性能大幅落后于SLC。为了保证MLC的寿命，掌握芯片还要有智能磨损平衡技术算法，使每个存储单元的写入次数可以平均分摊，以到达100万小时的平均无故障时间。因此固态硬盘有很多SMART参数是机械硬盘所没有的，如存储单元的擦写次数、备用块统计等等，这些增项大都由厂家自定义，有些尚无具体的解释，有些解释也未必准确，此处也只是仅供参考。下面凡未注明厂商的固态硬盘特有的项均为SandForce主控芯片特有的，其它厂商各自单独注明。

01〔001〕底层数据读取错误率RawReadErrorRate

数据为

数据为0或任意值，当前值应远大于与临界值。底层数据读取错误率是磁头从磁

盘外表读取数据时消灭的错误，对某些硬盘来说，大于0的数据说明磁盘外表或者读写磁头发生问题，如介质损伤、磁头污染、磁头共振等等。不过对希捷硬盘来说，很多硬盘的这一项会有很大的数据量，这不代表有任何问题，主要是看当前值下降的程度。

在固态硬盘中，此项的数据值包含了可校正的错误与不行校正的RAISE错误

〔UECC＋URAISE〕。

注：RAISE〔RedundantArrayofIndependentSiliconElements〕意为独立硅元素冗余阵列，是固态硬盘特有的一种冗余恢复技术，保证内部有类似RAID阵列的数据安全性。

02〔002〕磁盘读写通量性能ThroughputPerformance

此参数表示硬盘的读写通量性能，数据值越大越好。当前值假设偏低或趋近

临界值，表示硬盘存在严峻的问题，但现在的硬盘通常显示数据值为0或根本不显示此项，一般在进展了人工脱机SMART测试后才会有数据量。

03〔003〕主轴起旋时间SpinUpTime

主轴起旋时间就是主轴电机从启动至到达额定转速所用的时间，数据值直接

主轴起旋时间就是主轴电机从启动至到达额定转速所用的时间，数据值直接显示时间，单位为毫秒或者秒，因此数据值越小越好。不过对于正常硬盘来说，这一项仅仅是一个参考值，硬盘每次的启动时间都不一样，某次启动的稍慢些也不表示就有问题。

硬盘的主轴电机从启动至到达额定转速大致需要4秒～15秒左右，过长的启动时间说明电机驱动电路或者轴承机构有问题。旦这一参数的数据值在某些型号的硬盘上总是为0，这就要看当前值和最差值来推断了。

对于固态硬盘来说，全部的数据都是保存在半导体集成电路中，没有主轴电机，所以这项没有意义，数据固定为0，当前值固定为100。

04〔004〕启停计数Start/StopCount

这一参数的数据是累计值，表示硬盘主轴电机启动/停顿的次数，硬盘通

这一参数的数据是累计值，表示硬盘主轴电机启动/停顿的次数，硬盘通常只有几次，以后会渐渐增加。系统的某些功能如空闲时关闭硬盘等会使硬盘启动/停顿的次数大为增加，在排解定时功能的影响下，过高的启动/停顿次数〔远大于通电次数0C〕示意硬盘电机及其驱动电路可能有问题。

这个参数的当前值是依据某种公式计算的结果，例如对希捷某硬盘来说临界值为20，当前值是通过公式“100－〔启停计数/1024〕”计算得出的。假设硬盘的启停计数为0，当前值为100－(0/1024)＝100，随着启停次数的增加，该值不断下降，当启停次数到达81920次时，当前值为100－(81920/1024)＝20，已到达临界值，表示从启停次数来看，该硬盘已达设计寿命，固然这只是个寿命参考值，并不具有确定的指标性。

这一项对于固态硬盘同样没有意义，数据固定为0，当前值固定为100。

05〔005〕重映射扇区计数ReallocatedSectorsCount/退役块计数RetiredBlockCount

数据应为

数据应为0，当前值应远大于临界值。

当硬盘的某扇区持续消灭读/写/校验错误时，硬盘固件程序会将这个扇区的物理地址参加缺陷表(G-list)，将该地址重定向到预先保存的备用扇区并将其中的数据一并转移，这就称为重映射。执行重映射操作后的硬盘在Wi