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SMART检测参数说明
一般状况下,用户只要观看当前值、最差值和临界值的关系,并留意状态提
一般状况下,用户只要观看当前值、最差值和临界值的关系,并留意状态提示信息即可大致了解硬盘的安康状况。下面简洁介绍各参数的含义,以红色标出的工程是寿命关键项,蓝色为固态硬盘〔SSD〕特有的工程。
在基于闪存的固态硬盘中,存储单元分为两类:SLC〔SingleLayerCell,单层单元〕和MLC〔Multi-LevelCell,多层单元〕。SLC本钱高、容量小、但读写速度快,牢靠性高,擦写次数可高达100000次,比MLC高10倍。而MLC虽容量大、本钱低,但其性能大幅落后于SLC。为了保证MLC的寿命,掌握芯片还要有智能磨损平衡技术算法,使每个存储单元的写入次数可以平均分摊,以到达100万小时的平均无故障时间。因此固态硬盘有很多SMART参数是机械硬盘所没有的,如存储单元的擦写次数、备用块统计等等,这些增项大都由厂家自定义,有些尚无具体的解释,有些解释也未必准确,此处也只是仅供参考。下面凡未注明厂商的固态硬盘特有的项均为SandForce主控芯片特有的,其它厂商各自单独注明。
01〔001〕底层数据读取错误率RawReadErrorRate
数据为
数据为0或任意值,当前值应远大于与临界值。底层数据读取错误率是磁头从磁
盘外表读取数据时消灭的错误,对某些硬盘来说,大于0的数据说明磁盘外表或者读写磁头发生问题,如介质损伤、磁头污染、磁头共振等等。不过对希捷硬盘来说,很多硬盘的这一项会有很大的数据量,这不代表有任何问题,主要是看当前值下降的程度。
在固态硬盘中,此项的数据值包含了可校正的错误与不行校正的RAISE错误
〔UECC+URAISE〕。
注:RAISE〔RedundantArrayofIndependentSiliconElements〕意为独立硅元素冗余阵列,是固态硬盘特有的一种冗余恢复技术,保证内部有类似RAID阵列的数据安全性。
02〔002〕磁盘读写通量性能ThroughputPerformance
此参数表示硬盘的读写通量性能,数据值越大越好。当前值假设偏低或趋近
临界值,表示硬盘存在严峻的问题,但现在的硬盘通常显示数据值为0或根本不显示此项,一般在进展了人工脱机SMART测试后才会有数据量。
03〔003〕主轴起旋时间SpinUpTime
主轴起旋时间就是主轴电机从启动至到达额定转速所用的时间,数据值直接
主轴起旋时间就是主轴电机从启动至到达额定转速所用的时间,数据值直接显示时间,单位为毫秒或者秒,因此数据值越小越好。不过对于正常硬盘来说,这一项仅仅是一个参考值,硬盘每次的启动时间都不一样,某次启动的稍慢些也不表示就有问题。
硬盘的主轴电机从启动至到达额定转速大致需要4秒~15秒左右,过长的启动时间说明电机驱动电路或者轴承机构有问题。旦这一参数的数据值在某些型号的硬盘上总是为0,这就要看当前值和最差值来推断了。
对于固态硬盘来说,全部的数据都是保存在半导体集成电路中,没有主轴电机,所以这项没有意义,数据固定为0,当前值固定为100。
04〔004〕启停计数Start/StopCount
这一参数的数据是累计值,表示硬盘主轴电机启动/停顿的次数,硬盘通
这一参数的数据是累计值,表示硬盘主轴电机启动/停顿的次数,硬盘通常只有几次,以后会渐渐增加。系统的某些功能如空闲时关闭硬盘等会使硬盘启动/停顿的次数大为增加,在排解定时功能的影响下,过高的启动/停顿次数〔远大于通电次数0C〕示意硬盘电机及其驱动电路可能有问题。
这个参数的当前值是依据某种公式计算的结果,例如对希捷某硬盘来说临界值为20,当前值是通过公式“100-〔启停计数/1024〕”计算得出的。假设硬盘的启停计数为0,当前值为100-(0/1024)=100,随着启停次数的增加,该值不断下降,当启停次数到达81920次时,当前值为100-(81920/1024)=20,已到达临界值,表示从启停次数来看,该硬盘已达设计寿命,固然这只是个寿命参考值,并不具有确定的指标性。
这一项对于固态硬盘同样没有意义,数据固定为0,当前值固定为100。
05〔005〕重映射扇区计数ReallocatedSectorsCount/退役块计数RetiredBlockCount
数据应为
数据应为0,当前值应远大于临界值。
当硬盘的某扇区持续消灭读/写/校验错误时,硬盘固件程序会将这个扇区的物理地址参加缺陷表(G-list),将该地址重定向到预先保存的备用扇区并将其中的数据一并转移,这就称为重映射。执行重映射操作后的硬盘在Wi
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