【英/法语版】国际标准 IEC 61967-4:2002+AMD1:2006 CSV EN-FR 集成电路-电磁辐射的测量-第4部分：传导辐射的测量-1 Omega;/150 Omega;直接耦合方法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Omega;/150 Omega;.pdf

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IEC61967-4:2002+AMD1:2006是国际电工委员会（IEC）制定的关于电了辐射测量标准，适用于频率从150kHz到1GHz范围内的传导辐射测量。其中，Part4部分专门描述了直接耦合方法的测量方法。

CSVEN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticemissions是关于集成电路中电磁辐射测量的标准。这个标准涉及到测量电子设备在正常工作条件下产生的电磁辐射。

这个标准中的测量方法主要是用来评估电子设备在电磁环境中的辐射特性。在这个标准中，‘直接耦合方法’是一种测量传导辐射的方法。这种方法将测试设备与参考系统直接连接，然后通过一个传导辐射分析仪器来测量电子设备的电磁辐射。

该方法可以分为两种不同的类型：

1.Omega;/150Omega;直接耦合方法：这种方法是通过将参考系统和测试设备之间的阻抗匹配来消除电路中其他可能产生的电磁辐射干扰。这个方法适用于高频和低频电路的测量。

IEC61967-4:2002+AMD1:2006标准中的‘直接耦合方法’是一种用于测量电子设备在特定频率范围内的传导辐射的精确方法，这种方法可以提供更准确和可靠的测量结果。