【英/法语版】国际标准 IEC 61967-4:2021 EN-FR 集成电路 - 电磁辐射测量 - 第4部分：传导辐射测量 - 1欧/150欧直接耦合方法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method.pdf

以下文本介绍内容由我方AI生成，信息仅供参考，如有出入，请以实际为准。

IEC61967-4:2021EN-FR集成电路-电磁辐射测量-第4部分：传导辐射的测量-1欧/150欧直接耦合方法是一套标准，用于测量电子设备或系统在运行过程中产生的电磁辐射。这个标准详细规定了测量方法和测量结果的解释，以确保设备或系统的电磁辐射符合相关法规和标准的要求。

该标准中的1欧/150欧直接耦合方法是一种常用的传导辐射测量方法。在这种方法中，测量设备或系统通过其电路与一个1欧姆或150欧姆的电阻器直接相连。通过测量电阻器上的电平，可以确定设备或系统产生的传导辐射水平。

这种方法的关键是确保电阻器与设备或系统之间的直接耦合，以最大程度地减少其他可能的干扰和影响。该标准还规定了测量过程中的许多其他因素，例如测试环境的条件、设备的接地情况、测量时间的选择等等。

IEC61967-4:2021EN-FRIEC61967-4标准中的1欧/150欧直接耦合方法是一种用于测量传导辐射水平的标准方法，它确保了测量结果的准确性和可靠性，并符合相关法规和标准的要求。