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第二章;传统封装与装配;净化车间;芯片封装技术工艺流程图;2.2芯片减薄与切割
芯片减薄
为什么要减薄
半导体集成电路用4英寸硅片厚度为520μm,6英寸厚度为670μm。这样就对芯片的切分带来困难。因此电路层制作完成后,需要对硅片背面进行减薄,使其达到所需要的厚度,然后再进行划片加工,形成一个个减薄的裸芯片。
;减薄工艺
硅片背面减技术主要有:
磨削、研磨、化学抛光
干式抛光、电化学腐蚀、湿法腐蚀
等离子增强化学腐蚀、常压等离子腐蚀等;硅片减薄;BackGrinding背面减薄;优点:无缝隙、热稳定性优良、低接合应力与低湿气含量。
4、倒装焊接后芯片下面充填
再将载带上的引线排与芯片的I/O键合点键合。
切筋成型通常是两道工序,但同时完成(在机器上)。
凸点材料:Ni/AuCu凸点、CuC凸点等;
铜丝相对于金丝具有成本低、强度和刚度高、适合于细间距键合的优点。
??苯丙环丁稀(BCB)薄膜
工艺过程有些像敲橡皮图章,因为是用橡胶来刻制打码标识。
Molding(注塑)
可见TAB技术与一般的压丝引线技术不同。
Pb/Sn焊料(C4技术)的优点:
置球及模板印刷制作焊料凸点法
主要方法有:热压焊、热压再流焊。
所谓各向异性导电胶(ACA)可理解为纵向导电,横向不导电的材料。
化学镀凸点制作法、打球凸点制作法、移植法等。
金凸块制作的传统工艺:
关键:制作高精度模板。
将置料球换成印刷焊膏也可制作焊料凸点。
Intermetallic(金属间化合物测试)
因此改进凸块制作技术成为一项研究的热门课题。;先划片后减薄和减薄划片两种方法
;分片;WaferSaw晶圆切割;OpticalInspection光学检查;2.3芯片粘贴;装架;2.3.1共晶粘贴法;芯片粘结-Au-Si共晶贴片;2.3.2焊接粘贴法;2.3.3导电胶粘贴法;芯片粘结-环氧树脂粘贴;DieAttach芯片粘接;图解操作;DieAttach芯片粘接;EpoxyCure银浆固化;导电胶粘贴法工艺过程和导电胶材料;2.3.4玻璃胶粘贴法;;2.4互连技术;;引线键合技术是将半导体裸芯片(Die)焊区与微电子封装的I/O引线或基板上的金属布线焊区(Pad)用金属细丝连接起来的工艺技术。;WB技术作用机理;
三种??合方式:
超声波键合(加超声)
热压键合(加热、加压)
热超声波键合(也称为金丝球焊。加热、加压、加超声)
;WireBonding引线焊接;从芯片压点到引线框架的引线键合;1、超声波键合;超声键合工序;2、热压键合;热压键合;3、热超声波键合;热超声键合;热超声键合特点;引线键合实例;WireBond的质量控制:;引线键合拉力试验;引线键合的主要材料;引线键合的关键工艺;引线键合的技术缺陷;2.4.2载带自动键合技术(TAB)
;载带自动焊键合技术(TAB)
主要工艺技术包括:载带制造技术、凸点形成技术、引线压焊技术、密封技术。
TAB法适合于自动化流水线大批量生产,效率高;
适应高密度I/O及高速超大规模集成电路的封装要求。
应用对象:I/O接点大于500个。;各种TAB封装;TAB技术较之常用的引线工艺的优点:
(1)对高速电路来说,常规的引线使用圆形导线,而且引线较长,往往引线中高频电流的趋肤效应使电感增加,造成信号传递延迟和畸变,这是十分不利的。TAB技术采用矩形截面的引线,因而电感小,这是它的优点。
(2)传统引线工艺要求键合面积4mil2,而TAB工艺的内引线键合面积仅为2mil2这样就可以增加I/O密度,适应超级计算机与微处理器的更新换代。
(3)TAB技术中使用铜线而不使用铝线,从而改善器件的热耗散性能。
(4)在芯片最终封装前可进行预测试和通电老化。这样可剔除坏芯片,不使它流入下一道工序,从而节省了成本,提高了可靠性。
(5)TAB工艺中引线的键合平面低,使器件薄化。
;1、基本工艺---载带制造技术;铜箔双层带;各种载带制作
;载带材料;载带上Cu箔引线的图形结构;2、凸点形成技术:基本工艺;凸点种类;金凸块制作的传统工艺
;金凸块制作流程;凸块转移技术
一般的凸块制作工艺流程,可以看出,它的制作工艺复杂,技术难度大,成本高。因此改进凸块制作技术成为一项研究的热门课题。
Matsushita公司开发了凸块转移技术。
这种技术分2次键合:
第1次是将在玻璃基板上做成的凸块,转移到载带内引脚前端与芯片键合点相对应的位置。
第2次键合。在引脚前端有凸点的载带由专门的制造商提供,这
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