【英/法语版】国际标准 IEC 62047-35:2019 EN-FR Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices 半导体器件-微机电机械器件-第35部分：柔性机电器件弯曲变形下电气特性测试方法.pdf

IEC62047-35:2019EN-FR半导体器件-微机电器件-第35部分：适用于柔性电子机械器件在弯曲变形条件下电气特性测试的方法标准。

IEC62047系列标准是国际电工委员会（IEC）制定的一系列关于半导体器件的通用标准。其中，IEC62047-35是专门针对微机电（MEMS）器件的测试标准，用于评估其在弯曲变形条件下的电气特性。

具体来说，该标准规定了测试方法、测试程序和测试条件，以评估柔性电子机械器件在弯曲变形下的电气性能。这包括测试器件在弯曲变形下的电阻、电容、电感、电流、电压等参数，以及器件在这些参数下的稳定性、可靠性和性能表现。

该标准对于设计和制造柔性电子机械器件的公司和实验室来说非常重要，因为它提供了评估器件在弯曲变形条件下性能的可靠方法，有助于确保产品的质量和可靠性。该标准还为行业提供了有关器件在弯曲变形条件下电气特性的通用规范，有助于推动柔性电子机械器件行业的发展。

需要注意的是，执行该标准时需要注意测试环境、测试设备、测试步骤和测试数据的处理和分析等方面的要求，以确保测试结果的准确性和可靠性。同时，根据不同类型和结构的柔性电子机械器件，可能需要根据具体情况对标准进行适当的调整和修改。