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T/ZJBDT

团体标准

T/ZJBDTXXXXX—XXXX

环境光传感器芯片参数测试方法

（征求意见稿）

XXXX-XX-XX发布XXXX-XX-XX实施

浙江省半导体行业协会发布

T/ZJBDTXXXXX—XXXX

目次

前言2

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4总则2

5参数测试3

1

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前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由浙江省半导体行业协会提出并归口。

本文件起草单位：杭州朗迅科技股份有限公司、浙江大学、杭州芯云半导体技术有限公司、浙江科

技大学、浙江机电职业技术学院、西安电子科技大学杭州研究院、杭州友旺电子有限公司、杭州士兰微

电子股份有限公司、芯云半导体（诸暨）有限公司、杭州芯海半导体技术有限公司。

本文件主要起草人：徐振、丁勇、赵达君、李志凯、丁盛峰、李其朋、卓婧、陈冰、张志忠、姜飞帆。

2

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环境光传感器芯片参数测试方法

1范围

本文件规定了环境光传感器芯片的开路_短路测试、输入漏电测试、IIC_读写测试、输入高低电平

测试、输出高低电平测试、Efuse判断测试、基准频率测试、待机功耗测试、静态功耗测试、动态功耗

测试、暗光校准测试、Efuse烧写测试、基准频率检查测试、暗光校准检查测试、固定光强校准检查测

试等测试方法。

本文件适用于环境光传感器芯片参数测试。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T34069-2017《物联网总体技术智能传感器特性与分类》

GB/T30269.801-2017《信息技术传感器网络第801部分：测试：通用要求》

GB/T7665-2005《传感器通用术语》

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

SPEC：芯片规格表。

PIN：芯片管脚。

VDD：器件电源管脚。

IIC：Inter-IntegratedCircuit，集成电路总线。

Efuse：electronicfuse，电子熔丝。

烧写：对一次性可编程存储器对应位进行熔断，达到配置芯片非易失性存储单元数据的目的。

暗光：芯片处于完全无光的环境下。

Lux：勒克斯（法定符号lx），是照度的单位。

ATE：自动测试设备，用于半导体芯片测试。

DPS：ATE测试机台中的器件电源供给板卡。

PE：