原创力文档- 1、本文档共5页，可阅读全部内容。
- 2、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。
- 3、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击 这里二次下载。
- 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
- 5、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
- 6、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 7、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 8、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次， 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
扫描电子显微镜使用流程及注意事项
英文回答：
ScanningElectronMicroscopy(SEM)。
ProcessWorkflow.
1.SamplePreparation:Preparethesamplebyfixing,
dehydrating,andcoatingitwithathinlayerof
electricallyconductivematerial.
2.Mounting:Mountthesampleonaspecimenstubusing
conductiveadhesiveorcarbontape.
3.VacuumChamber:Placethesampleinthevacuum
chamberoftheSEM.
4.ElectronBeamFormation:Generateafocusedelectron
beamusinganelectrongun.
5.ElectronBeam-SampleInteraction:Focustheelectron
beamonthesamplesurface,resultingintheemissionof
secondaryelectrons,backscatteredelectrons,andX-rays.
6.SignalDetection:Collecttheemittedsignalsusing
detectorssuchassecondaryelectrondetectors,
backscatteredelectrondetectors,andX-raydetectors.
7.ImageFormation:Processthecollectedsignalsto
createimagesthatrevealthesamplessurfacetopography
andcomposition.
Precautions.
SampleStability:Ensurethesampleisstableandcan
withstandthevacuumandelectronbeam.
VacuumLevel:Maintainahighvacuumlevelwithinthe
chambertopreventairscatteringandcontamination.
BeamDamage:Useappropriatebeamconditions(e.g.,
voltage,current,spotsize)tominimizesampledamage.
ElectricalHazards:GroundtheSEMandwear
appropriatesafetygear.
ImagingOptimization:Adjustimagingparameters(e.g.,
magnification,workingdistance,brightness,contrast)for
optimalimagequality.
中文回答：
扫描电子显微镜(SEM)。
流程。
1.样本制备，通过固定、脱水和覆盖一层薄薄的导电材料来制
备样本。
2.安装，使用导电胶或碳胶带将样本安装在样品台上。
3.真空室，将样本放入SEM的真空室中。
4.电子束形成，使用电子枪产生聚焦的电子束。
5.电子束样品作用，将电子束聚焦在样品表面，从而发射出二
次电子、背散射电子和X射线。
6.信号检测，使用二级电子探测器、背散射电子探测器和X
射线探测器等探测器收集发射的信号。
7.图像形成，处理收集的信号以创建图像，揭示样品的表面形
貌和成分。
注意事项。
样本稳定性，确保样本稳定，能够承受真空和电子束。
真空度，在腔室中保持高真空度，以防止空气散射和污染。
电子束损伤，使用合
文档评论（0）